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華測儀器 表面電位衰減測試系統產品介紹
日期：2025-12-08 01:07
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摘要：
華測儀器 表面電位衰減測試系統
產品簡介
表面電位衰減測試系統是一款面向材料電學特性研究的多功能分析設備，能夠評估介質材料表面電荷動態衰減行為及陷阱能級分布，系統集高壓極化、準確溫控、快速信號采集及智能化分析于一體，支持針、柵、板三種電極配置，可模擬不同溫濕度環境下的材料電荷動態響應，為絕緣材料、功能薄膜、電子器件等領域的研究與質量控制提供數據支持。
技術參數
充電電源：±30 kV
加熱臺溫度范圍：室溫 ~ 160 ℃
控溫精度：± 0.2 ℃
輸入電壓：AC 220 V ±10%，50 HZ
額定輸出電壓：0～+30k...
華測儀器 表面電位衰減測試系統
產品簡介表面電位衰減測試系統是一款面向材料電學特性研究的多功能分析設備，能夠評估介質材料表面電荷動態衰減行為及陷阱能級分布，系統集高壓極化、準確溫控、快速信號采集及智能化分析于一體，支持針、柵、板三種電極配置，可模擬不同溫濕度環境下的材料電荷動態響應，為絕緣材料、功能薄膜、電子器件等領域的研究與質量控制提供數據支持。
技術參數
充電電源：±30 kV
加熱臺溫度范圍：室溫 ~ 160 ℃
控溫精度：± 0.2 ℃
輸入電壓：AC 220 V ±10%，50 HZ
額定輸出電壓：0～+30kV
額定輸出電流：≤ 1 mA
溫度系數：≤ 0.1 %/℃
測量范圍：0 ~ ±10 kV
穩定性：時間漂移<100 ppm/小時（非累積）；溫度漂移<200 ppm/℃
極化電極：針、柵、板電極
電極材質：銀或黃銅
產品優勢
01 高壓極化與準確控制
設備支持±30 kV寬范圍高壓輸出，負載調整率≤0.5%，穩定性≤0.1%/h，以確保極化過程穩定可靠。
控溫加熱臺（室溫~160℃，±0.2℃），結合濕度可調電極箱體，能夠滿足復雜環境模擬需求。
02 高靈敏測量與快速響應
設備的電位測量范圍達±10 kV，精度1 V，采集頻率＞1次/秒，搭配5~20 ms高速響應，可以準確捕捉瞬態電位變化。
配備采集卡與中文分析軟件，能夠自動提取陷阱分布參數，一鍵生成衰減曲線及深度分析報告。
03 靈活電極配置與集成化設計
設備提供銀/黃銅材質針、柵、板電極，電極間隙0~100 mm動態可調，適配不同樣品形態與測試場景。
集成化電極箱體整合加熱臺、支架及濕度模塊幫助測試人員大幅提升實驗效率，減少重復性。
04 高穩定性與防護性
設備的電壓調整率≤0.1%，溫度系數≤0.1%/℃，確保長時間測試數據的一致性；
輸出電流限制≤1 mA，符合高壓操作防護標準。
應用領域
華測儀器 表面電位衰減測試系統可應用于絕緣材料研發、功能薄膜分析、半導體器件優化、科研與教育、電力設備質檢等領域，例如評估高壓電纜、電容器薄膜等介電材料的耐壓性能與電荷消散特性；研究光伏背板、柔性電子器件的表面電荷行為及陷阱效應；表征柵極介質層、封裝材料的電荷陷阱分布；高校及實驗室用于電介質物理、材料科學等領域的基礎研究與教學實驗；檢測絕緣子、變壓器套管等電力裝備的絕緣老化狀態及壽命預測等。
