產品詳情
簡單介紹：
詳情介紹：
華測儀器 HCCT-40H 薄膜電容器溫度特性評估儀
產品簡介HCCT-40H薄膜電容器溫度特性評估儀由華測儀器生產，是將環境試驗箱與儀器相結合，效率采集數據的自動化多通道測量儀。
儀器自動評估測量高溫和高溫/高濕環境下電容器的絕緣退化特性和電容器在不同溫度下的關鍵參數，從而評估其溫度特性；該儀器穩定可靠，通道數量多，具有多種測試模式，多種可選夾具，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等各種類型的電容器。
產品優勢
01 至多64個通道的自動測量
設備可以測量不同溫度環境下的電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)，可選擇8個通道的倍數，至多64個通道。
02 圖形功能允許實時查看測量結果
設備可收集測試的數據，包括不同溫度、頻率和時間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數進行實時審查。
03 可從不同測試模式選擇
設備可選擇不同的測試模式：溫度特性評價試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗，且可以與溫度特性評價測試或恒定運行測試相合。
溫度特性評估測試：在此測試模式下，自動記錄特性數據，并與溫度變化同步，頻率步數201步（范圍可定制）。
持續運行測試：測試模式測量參數的變化隨時間推移自動記錄數據。
頻率特性評價試驗：試驗模式在特定溫度環境下改變頻率的同時，自動記錄不同頻率下的特性數據。
04 多種可選夾具 適用于不同的試驗樣本
除了SMD組件的專用夾具外，系統還提供了根據離散設備形狀定制的夾具，也可定制環境試驗箱。
